是否有现货：	否	认证：	ISO
类型：	冲击试验箱	型号：	HG-TS-1000Z
规格：	1000L	商标：	HG
包装：	标准	升温时间：RT+10 ℃ ～ ﹢200 ℃∕ 30min：	低温箱预冷温度；﹣10 ℃ ～ ﹣75 ℃
降温时间：﹢25 ℃ →﹣75℃ 90 min：	低温冲击范围：0 ℃ ～ ﹣65 ℃	内尺寸：W 1000 × H 1000× D：	高温箱预热温度：RT+10 ℃ ～ ﹢200 ℃
冲击恢复时间：≤5 min（高低温保持时间要求≥20min）：	测试区温度波动：≤± 0.5 ℃。	温度均匀度：≤3 ℃。：	温度偏差：≤± 2 ℃。
高温冲击范围：﹢60 ℃ ～ ﹢180 ℃：	冲击转换时间：≤10 S	产量：	40

产品功能特点能提供高低温突变的试验环境，供产品试验用三相式，试品不移动冲击方式：三温，二温选择采用本公司最新专利技术，成倍提供制冷效率，特别节省电能大屏幕彩色显示运行状态，人机对话，中英文选择大容量程式设置，强大数据管理功能产品主要用途电子零件，IC的高低温冲击试验电路板，模块的高低温冲击主要用于电工电子，汽车，航空航空，军工等行业工业企业实验室，科研院所，高等学校，检测认证机构是我们的常客。产品选型参数表-40度机型参数表型号HGTS-31JHGTS-49JHGTS-80JHGTS-100JHGTS-150JHGTS-252JHGTS-450J内尺寸HXWXD(cm)30x35x3035x40x3540x50x4050x50x4050x60x5060x70x6075x80x75高温箱最高温度180度180度180度180度180度180度180度低温箱最低温度-60度-60度-60度-60度-60度-60度-60度冲击范围度度度度度度度温度恢复时间小于5分钟小于5分钟小于5分钟小于5分钟小于5分钟小于5分钟小于5分钟温度波动0.5度0.5度0.5度0.5度0.5度0.5度0.5度温度均匀度2度2度2度2度2度2度2度冷却方式风冷风冷风冷水冷水冷水冷水冷-55度机型参数表型号HGTS-31RHGTS-49RHGTS-80RHGTS-100RHGTS-150RHGTS-252RHGTS-450R内尺寸HXWXD(cm)30x35x3035x40x3540x50x4050x50x4050x60x5060x70x6075x80x75高温箱最高温度180度180度180度180度180度180度180度低温箱最低温度-70度-70度-70度-70度-70度-70度-70度冲击范围度度度度度度度温度恢复时间小于5分钟小于5分钟小于5分钟小于5分钟小于5分钟小于5分钟小于5分钟温度波动0.5度0.5度0.5度0.5度0.5度0.5度0.5度温度均匀度2度2度2度2度2度2度2度冷却方式风冷风冷水冷水冷水冷水冷水冷-65度机型参数表型号HGTS-31ZHGTS-49ZHGTS-80ZHGTS-100ZHGTS-150ZHGTS-252ZHGTS-450Z内尺寸HXWXD(cm)30x35x3035x40x3540x50x4050x50x4050x60x5060x70x6075x80x75高温箱最高温度180度180度180度180度180度180度180度低温箱最低温度-80度-80度-80度-80度-80度-80度-80度冲击范围度度度度度度度温度恢复时间小于5分钟小于5分钟小于5分钟小于5分钟小于5分钟小于5分钟小于5分钟温度波动0.5度0.5度0.5度0.5度0.5度0.5度0.5度温度均匀度2度2度2度2度2度2度2度冷却方式水冷水冷水冷水冷水冷水冷水冷